|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Pseudo Functional Path Delay Test through Embedded Memories |
| Auteur: |
Gao, Yukun Zhang, Tengteng Pokharel, Punj Chakraborty, Swati Walker, D. M. H. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 31 (2014) nr. 1 pagina's 35-42 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |