|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Testing Disturbance Faults in Various NAND Flash Memories |
| Auteur: |
Hou, Chih-Sheng Li, Jin-Fu |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 30 (2014) nr. 6 pagina's 643-652 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |