|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Increasing the Fault Coverage of Processor Devices during the Operational Phase Functional Test |
| Auteur: |
Carvalho, M. de Bernardi, P. Sanchez, E. Reorda, M. Sonza Ballan, O. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 30 (2014) nr. 3 pagina's 317-328 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |