|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
The Effect of Temperature-Induced Quiescent Operating Point Shift on Single-Event Transient Sensitivity in Analog/Mixed-Signal Circuits |
| Auteur: |
Ren, Yi Chen, Li |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 30 (2014) nr. 3 pagina's 377-382 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |