|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
A Novel Wafer Manipulation Method for Yield Improvement and Cost Reduction of 3D Wafer-on-Wafer Stacked ICs |
| Auteur: |
Zhang, Bei Agrawal, Vishwani D. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 30 (2014) nr. 1 pagina's 57-75 |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |