|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Study of Low-Cost Electrical Test Strategies for Post-Silicon Yield Improvement of MEMS Convective Accelerometers |
| Auteur: |
Rekik, Ahmed Amine Azaïs, Florence Mailly, Frédérick Nouet, Pascal |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 30 (2013) nr. 1 pagina's 87-100 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |