|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Physics-Based Low-Cost Test Technique for High Voltage LDMOS |
| Auteur: |
Kannan, Sukeshwar Kannan, Kaushal Kim, Bruce C. Taenzler, Friedrich Antley, Richard Moushegian, Ken Butler, Kenneth M. Mirizzi, Doug |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 29 (2013) nr. 6 pagina's 745-762 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |