|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Guest Editorial: Test and Verification Challenges for Future Microprocessors and SoC Designs |
| Auteur: |
Ray, Sandip Bhadra, Jay Abadir, Magdy S. Wang, Li-C |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 29 (2013) nr. 5 pagina's 621-623 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |