|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
A Bulk Built-In Voltage Sensor to Detect Physical Location of Single-Event Transients |
| Auteur: |
Zhang, Zhichao Ren, Yi Chen, Li Gaspard, Nelson J. Witulski, Arthur. F. Holman, Timothy W. Bhuva, Bharat L. Wen, Shi-Jie Sammynaiken, Ramaswami |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 29 (2013) nr. 2 pagina's 249-253 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 14 gevonden artikelen
| volgende >> |