|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Efficient Pattern Generation for Small-Delay Defects Using Selection of Critical Faults |
| Auteur: |
Bao, Fang Peng, Ke Yilmaz, Mahmut Chakrabarty, Krishnendu Winemberg, LeRoy Tehranipoor, Mohammad |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 29 (2013) nr. 1 pagina's 35-48 |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |