|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
A Test Platform for Dependability Analysis of SoCs Exposed to EMI and Radiation |
| Auteur: |
Benfica, Juliano Bolzani Poehls, Letícia Maria Vargas, Fabian Lipovetzky, José Lutenberg, Ariel Gatti, Edmundo Hernandez, Fernando |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 28 (2012) nr. 6 pagina's 803-816 |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |