|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
BIST/Digital-Compatible Testing of RF Devices Using Distortion Model Fitting |
| Auteur: |
Sen, Shreyas Banerjee, Aritra Natarajan, Vishwanath Devarakond, Shyam Choi, Hyun Chatterjee, Abhijit |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 28 (2012) nr. 4 pagina's 405-419 |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |