|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
IC Immunity Modeling Process Validation Using On-Chip Measurements |
| Auteur: |
Ben Dhia, S. Boyer, A. Vrignon, B. Deobarro, M. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 28 (2012) nr. 3 pagina's 339-348 |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |