|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Test Impact on the Overall Die-to-Wafer 3D Stacked IC Cost |
| Auteur: |
Taouil, Mottaqiallah Hamdioui, Said Beenakker, Kees Marinissen, Erik Jan |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 28 (2011) nr. 1 pagina's 15-25 |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |