|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
RTL DFT Techniques to Enhance Defect Coverage for Functional Test Sequences |
| Auteur: |
Fang, Hongxia Chakrabarty, Krishnendu Fujiwara, Hideo |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 26 (2009) nr. 2 pagina's 151-164 |
| Jaar: |
2009 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |