|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 9 gevonden artikelen
| Titel: |
A Test Generation Methodology for Interconnection Opens Considering Signals at the Coupled Lines |
| Auteur: |
Gómez, Roberto Girón, Alejandro Champac, Victor H. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 24 (2008) nr. 6 pagina's 529-538 |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 9 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |