Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige   
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 30 van 30 gevonden artikelen
 
 
  Thermal-Aware SoC Test Scheduling with Test Set Partitioning and Interleaving
 
 
Titel: Thermal-Aware SoC Test Scheduling with Test Set Partitioning and Interleaving
Auteur: He, Zhiyuan
Peng, Zebo
Eles, Petru
Rosinger, Paul
Al-Hashimi, Bashir M.
Verschenen in: Journal of electronic testing
Paginering: Jaargang 24 (2007) nr. 1-3 pagina's 247-257
Jaar: 2007
Inhoud:
Uitgever: Springer US, Boston
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 30 van 30 gevonden artikelen
 
<< vorige   
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland