|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Improving Yield and Defect Tolerance in Subthreshold CMOS Through Output-Wired Redundancy |
| Auteur: |
Granhaug, Kristian Aunet, Snorre |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 24 (2007) nr. 1-3 pagina's 157-163 |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |