|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
A Built-In Redundancy-Analysis Scheme for Random Access Memories with Two-Level Redundancy |
| Auteur: |
Chang, Da-Ming Li, Jin-Fu Huang, Yu-Jen |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 24 (2007) nr. 1-3 pagina's 181-192 |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Springer US, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 30 gevonden artikelen
| volgende >> |