|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
A Low-Cost Test Methodology for Dynamic Specification Testing of High-Speed Data Converters |
| Auteur: |
Goyal, Shalabh Chatterjee, Abhijit Purtell, Michael |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 23 (2007) nr. 1 pagina's 95-106 |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 11 gevonden artikelen
| volgende >> |