|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
Optimization of Test/Diagnosis/Rework Location(s) and Characteristics in Electronic System Assembly |
| Auteur: |
Shi, Zhen Sandborn, Peter |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 22 (2006) nr. 1 pagina's 49-60 |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 11 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |