|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Overcoming Test Setup Limitations by Applying Model-Based Testing to High-Precision ADCs |
| Auteur: |
Wegener, Carsten Kennedy, Michael Peter |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 21 (2005) nr. 3 pagina's 299-310 |
| Jaar: |
2005 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |