|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Design of Embedded Self-Testing Checkers for t-UED and BUED Codes |
| Auteur: |
Steffen Tarnick |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 20 (2004) nr. 5 pagina's 13 p. |
| Jaar: |
2004-10 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |