|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
A BIST-based Solution for the Diagnosis of Embedded Memories Adopting Image Processing Techniques |
| Auteur: |
Appello, D. Fudoli, A. Tancorre, V. Bernardi, P. Corno, F. Rebaudengo, M. Reorda, M. Sonza |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 20 (2004) nr. 1 pagina's 79-87 |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |