|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Generation and Verification of Tests for Analog Circuits Subject to Process Parameter Deviations |
| Auteur: |
Spinks, S.J. Chalk, C.D. Bell, I.M. Zwolinski, M. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 20 (2004) nr. 1 pagina's 11-23 |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |