|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
BIST-Based Delay-Fault Testing in FPGAs |
| Auteur: |
Abramovici, Miron Stroud, Charles E. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 19 (2003) nr. 5 pagina's 549-558 |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |