|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
Dynamic Faults in Random-Access-Memories: Concept, Fault Models and Tests |
| Auteur: |
Hamdioui, Said Al-Ars, Zaid van de Goor, Ad J. Rodgers, Mike |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 19 (2003) nr. 2 pagina's 195-205 |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 28 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |