|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Assessing the Soft Error Rate of Digital Architectures Devoted to Operate in Radiation Environment A Case Studied |
| Auteur: |
R. Velazco S. Rezgui H. Ziade |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 19 (2003) nr. 1 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2003-02 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |