|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Innovative Built-In Self-Test Schemes for On-Chip Diagnosis, Compliant with the IEEE 1149.4 Mixed-Signal Test Bus Standard |
| Auteur: |
Ducoudray-Acevedo, Gladys Omayra RamÃrez-Angulo, Jaime |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 19 (2003) nr. 1 pagina's 21-28 |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |