Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 6 van 16 gevonden artikelen
 
 
  Deterministic Test Vector Compression/Decompression for Systems-on-a-Chip Using an Embedded Processor
 
 
Titel: Deterministic Test Vector Compression/Decompression for Systems-on-a-Chip Using an Embedded Processor
Auteur: Jas, Abhijit
Touba, Nur A.
Verschenen in: Journal of electronic testing
Paginering: Jaargang 18 (2002) nr. 4-5 pagina's 503-514
Jaar: 2002
Inhoud:
Uitgever: Kluwer Academic Publishers, Boston
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 6 van 16 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland