|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Enhanced Reduced Pin-Count Test for Full-Scan Design |
| Auteur: |
Harald Vranken Tom Waayers Hervé Fleury David Lelouvier |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 18 (2002) nr. 2 pagina's 15 p. |
| Jaar: |
2002-04 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |