|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
An Efficient Deterministic Test Pattern Generator for Scan-Based BIST Environment |
| Auteur: |
Wei-Lun Wang Kuen-Jong Lee |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 18 (2002) nr. 1 pagina's 11 p. |
| Jaar: |
2002-02 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |