|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Compressed Bit Fail Maps for Memory Fail Pattern Classification |
| Auteur: |
Jrg Vollrath Ulf Lederer Thomas Hladschik |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 17 (2001) nr. 3 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2001-06/08-/08 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |