|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
A Method for Trading off Test Time, Area and Fault Coverage in Datapath BIST Synthesis |
| Auteur: |
D. Berthelot M.L. Flottes B. Rouzeyre |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 17 (2001) nr. 3 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2001-06/08-/08 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |