|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
A Method for Trading off Test Time, Area and Fault Coverage in Datapath BIST Synthesis |
| Auteur: |
Berthelot, D. Flottes, M.L. Rouzeyre, B. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 17 (2001) nr. 3-4 pagina's 331-339 |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |