|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 10 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Fault Diagnosis of Analog Circuits Using Bayesian Neural Networks with Wavelet Transform as Preprocessor |
| Auteur: |
Aminian, Farzan Aminian, Mehran |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 17 (2001) nr. 1 pagina's 29-36 |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 10 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |