|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
BIST TPG for Combinational Cluster Interconnect Testing at Board Level |
| Auteur: |
Chiang, Chen-Huan Gupta, Sandeep K. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 16 (2000) nr. 5 pagina's 427-442 |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |