|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
A Non-Scan Approach to DFT for Controllers Achieving 100% Fault Efficiency |
| Auteur: |
Ohtake, Satoshi Masuzawa, Toshimitsu Fujiwara, Hideo |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 16 (2000) nr. 5 pagina's 553-566 |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |