|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Test Cycle Count Reduction in a Parallel Scan BIST Environment |
| Auteur: |
Ayari, Bechir Varma, Prab |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 16 (2000) nr. 5 pagina's 409-418 |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |