|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Reduction of Number of Paths to be Tested in Delay Testing |
| Auteur: |
Li, Huawei Li, Zhongcheng Min, Yinghua |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 16 (2000) nr. 5 pagina's 477-485 |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |