|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Formal Value-Range and Variable Testability Techniques for High-Level Design-For-Testability |
| Auteur: |
Seshadri, Sandhya Hsiao, Michael S. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 16 (2000) nr. 1-2 pagina's 131-145 |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |