|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Random Pattern Testability of Control and Address Circuitry of an Embedded Memory with Feed-Forward Data-Path Connections |
| Auteur: |
Savir, Jacob |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 15 (1999) nr. 3 pagina's 279-296 |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |