|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
A Multi-Mode Scannable Memory Element for High Test Application Efficiency and Delay Testing |
| Auteur: |
Sogomonyan, E.S. Singh, A.D. Goessel, M. |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 15 (1999) nr. 1-2 pagina's 87-96 |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |