|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Partial Reset Methodology and Experiments for Improving Random-Pattern Testability and BIST of Sequential Circuits |
| Auteur: |
Huy Nguyen Rabindra Roy Abhijit Chatterjee |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 14 (1999) nr. 3 pagina's 14 p. |
| Jaar: |
1999-06 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |