|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Off-Chip Diagnosis of Aperture Jitter in Full-Flash Analog-to-Digital Converters |
| Auteur: |
Rosing, Richard Kerkhoff, Hans Tangelder, Ronald Sachdev, Manoj |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 14 (1999) nr. 1-2 pagina's 67-74 |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |