|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Versatile BIST: An Integrated Approach to On-line/Off-line BIST for Data-Dominated Architectures |
| Auteur: |
Nilanjan Mukherjee Ramesh Karri |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 13 (1998) nr. 2 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
1998-10 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |