Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 19 van 22 gevonden artikelen
 
 
  Test Generation Based on High-Level Assertion Specification for PowerPCTM Microprocessor Embedded Arrays
 
 
Titel: Test Generation Based on High-Level Assertion Specification for PowerPCTM Microprocessor Embedded Arrays
Auteur: Li-C. Wang
Magdy S. Abadir
Verschenen in: Journal of electronic testing
Paginering: Jaargang 13 (1998) nr. 2 pagina's 15 p.
Jaar: 1998-10
Inhoud:
Uitgever: Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 19 van 22 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland