|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
RTL Test Justification and Propagation Analysis for Modular Designs |
| Auteur: |
Makris, Yiorgos Orailogcaron;lu, Alex |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 13 (1998) nr. 2 pagina's 105-120 |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |