|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 16 gevonden artikelen
| Titel: |
Statistical Delay Fault Coverage Estimation for Synchronous Sequential Circuits |
| Auteur: |
Lakshminarayana Pappu Michael L. Bushnell Vishwani D. Agrawal Srinivas Mandyam-Komar |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 12 (1998) nr. 3 pagina's 16 p. |
| Jaar: |
1998-06 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 16 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |