|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
A Functional Decomposition Method for Redundancy Identification and Test Generation |
| Auteur: |
Michael L. Bushnell John Giraldi |
| Verschenen in: |
Journal of electronic testing |
| Paginering: | Jaargang 10 (1997) nr. 3 pagina's 21 p. |
| Jaar: |
1997-06 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Kluwer Academic Publishers, Boston, U.S.A. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 24 gevonden artikelen
| volgende >> |